Атомная игла ощупывает химию поверхности и снимает нановидеоИсточник: membrana
Атомные силовые микроскопы способны показывать поверхность образцов практически на молекулярном уровне. Существует несколько вариантов таких устройств, но всех их объединяет одно - сверхтонкая игла, сужающаяся на острие едва ли не до единственного атома. Эта игла, говоря упрощённо, ощупывает рельеф изучаемой поверхности.
Она приводится в движение очень чувствительным и прецизионным приводом, который управляется компьютером. Дальше начинаются вариации - как именно снимать эти движения иглы (в частности, тут используется лазер и зеркала), и вообще - точно позиционировать её при движении вдоль образца.
Например, в ряде моделей игла управляется с помощью обратной связи по величине туннельного тока - потока электронов, проскакивающих между иглой и образцом при приближении иглы почти до касания поверхности.
И всё же результат работы такой машины один: геометрия поверхности, построенная компьютером после сканирования (последовательного прохода иглой большого ряда "дорожек", словно луч в кинескопе телевизора).
Называется эта новая удивительная система "Интегрированный считывающий и активный чувствительный к усилию наконечник" (Force sensing Integrated Readout and Active Tip - FIRAT).
Глава проекта, доктор Левент Дегертекин (Levent Degertekin) из школы инжиниринга Вудруфа (Woodruff School of Mechanical Engineering) института технологии Джорджии (Georgia Institute of Technology), говорит, что этот аппарат работает в 100 раз быстрее, чем все прежние типы атомных силовых микроскопов.
"Я думаю, что эта технология, в конечном счёте, заменит сегодняшние виды атомных микроскопов", - заявляет доктор Дегертекин.
Как говорят авторы агрегата, FIRAT работает как помесь палки Пого (на которую встают и прыгают, отталкиваясь от земли) и микрофона.
В одном варианте исследования мембрана с острым наконечником перемещается к образцу, но ещё до того, как касается его, испытывает с его стороны силу молекулярного притяжения. И как диафрагма микрофона новый сенсор чувствует эти свои отклонения ещё на дистанции.
В результате, обрабатывая сигнал о положении иглы во время сканирования, учёные могут получить массу данных. Не только рельеф образца, но и карту адгезии, прочности, эластичности, вязкости. "Фактически, мы можем получить всё", - говорит Дегертекин.
Интересно, что авторы FIRAT сумели уменьшить размер привода сканирующего наконечника до размеров иголки, вместо прежних очень крупных узлов. А снижение инерционности привода позволило новой машине проходить до 60 линий, идущих поперёк образца, каждую секунду.
Новая технология окажется неоценимой для многих типов исследований, в особенности для измерения параметров микроэлектронных устройств и наблюдения в режиме реального времени за биологическими взаимодействиями в молекулярном масштабе.
Самое примечательное в изобретении - новая система сканирования может быть добавлена без кардинальных переделок к существующим атомным силовым микроскопам. |